元件的可靠性試驗(yàn)是取得可靠性數(shù)據(jù)的主要手段，也是對(duì)元件作出可靠性估計(jì)的依據(jù)，影響元件可靠性的因素很多：廣義的外部應(yīng)力(如電應(yīng)力：電流、電樂、電功率；環(huán)境應(yīng)力：溫度濕度低氣壓輻射等；機(jī)械應(yīng)力：振動(dòng)沖擊、加速度等)都會(huì)使元件的性能和壽命受到影響。所以，可靠性試驗(yàn)的目的是模擬各種外部應(yīng)力的綜合作用，以獲得符合實(shí)際的失效率數(shù)據(jù)和分析各種應(yīng)力對(duì)元件性能及壽命的影響特征和程度，從而對(duì)失效機(jī)理作出符合實(shí)際的分析。據(jù)此，可靠性試驗(yàn)大致可分為壽命試驗(yàn)和環(huán)境試驗(yàn)兩大類。簡(jiǎn)要介紹如下。

壽命試驗(yàn)是對(duì)已經(jīng)認(rèn)定合格的元件在-定的電壓和溫度的條件下進(jìn)行長(zhǎng)期試驗(yàn)，測(cè)定與試驗(yàn)時(shí)間對(duì)應(yīng)的元件累積失效率(通常以百分率表示)。與元件破壞50%所對(duì)應(yīng)的試驗(yàn)時(shí)間2即為該批元件的平均壽命時(shí)間，通常用來比較各類元件或生產(chǎn)線上不同批次元件的相對(duì)質(zhì)量。進(jìn)行壽命試驗(yàn)需要相當(dāng)長(zhǎng)的時(shí)間[如失效率為100菲特(即0.01%每千小時(shí))的元件在一千萬個(gè)元件小時(shí)內(nèi)有一支失效]，因此采取加速壽命試驗(yàn)的方法來縮短試驗(yàn)時(shí)間。

加速壽命試驗(yàn)是對(duì)為數(shù)有限的試樣，施加高于正常應(yīng)力的條件下進(jìn)行的壽命試驗(yàn)使元件加速失效，從而在較短的時(shí)間內(nèi)獲得所需要的可靠性數(shù)據(jù)，由此推算出工作條件下的元件失效率。