元件的可靠性試驗是取得可靠性數(shù)據(jù)的主要手段，也是對元件作出可靠性估計的依據(jù)，影響元件可靠性的因素很多：廣義的外部應力(如電應力：電流、電樂、電功率；環(huán)境應力：溫度濕度低氣壓輻射等；機械應力：振動沖擊、加速度等)都會使元件的性能和壽命受到影響。所以，可靠性試驗的目的是模擬各種外部應力的綜合作用，以獲得符合實際的失效率數(shù)據(jù)和分析各種應力對元件性能及壽命的影響特征和程度，從而對失效機理作出符合實際的分析。據(jù)此，可靠性試驗大致可分為壽命試驗和環(huán)境試驗兩大類。簡要介紹如下。

壽命試驗是對已經(jīng)認定合格的元件在-定的電壓和溫度的條件下進行長期試驗，測定與試驗時間對應的元件累積失效率(通常以百分率表示)。與元件破壞50%所對應的試驗時間2即為該批元件的平均壽命時間，通常用來比較各類元件或生產(chǎn)線上不同批次元件的相對質(zhì)量。進行壽命試驗需要相當長的時間[如失效率為100菲特(即0.01%每千小時)的元件在一千萬個元件小時內(nèi)有一支失效]，因此采取加速壽命試驗的方法來縮短試驗時間。

加速壽命試驗是對為數(shù)有限的試樣，施加高于正常應力的條件下進行的壽命試驗使元件加速失效，從而在較短的時間內(nèi)獲得所需要的可靠性數(shù)據(jù)，由此推算出工作條件下的元件失效率。